地質(zhì)雷達(dá)調(diào)查淺層地基隱患.pdf

地質(zhì)雷達(dá)方法可應(yīng)用于直接確定淺層地基內(nèi)的斷層位置、走向、傾向和傾角4個參數(shù)，間接分析得到斷層的落差，不能探明充填物的詳細(xì)賦存狀態(tài)。地質(zhì)雷達(dá)對淺層地基內(nèi)涵洞的探測易于實現(xiàn)。探測實例表明，地質(zhì)雷達(dá)不破壞目標(biāo)體，效率高，在淺層探測中具有較高的精度，與鉆探資料相結(jié)合，對淺層地基中的斷層及涵洞等地質(zhì)異常可作出準(zhǔn)確判斷，從而指導(dǎo)工程設(shè)計。